Nacisk położono na testowanie skomplikowanych układów prototypowych pod kątem występowania błędów sprzętowych w oparciu o zestaw testowy firmy XJTAG.
Seminarium na temat skanowania ze ścieżką krawędziową
Wtorek, 22 Kwiecień 2014

Firmy FlowCAD i XJTAG zorganizowały 26 marca w Warszawie jednodniowe seminarium poświęcone technice testowania układów elektronicznych metodą ścieżki krawędziowej.
Zobacz więcej w kategorii Koktajl newsów